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  • 极速赛车手机官网原子力显微镜在化学中的应用

    732天前

    扫描隧道显微镜(STM)能在多种实验环境下高分辨地实时观察导体和半导体的表面结构,提供了许多其他表面分析技术不能提供的新信息。但是STM只能直接观察导体和半导体的表面结构,对于非导体材料往往采取覆盖导电膜的方法进行间接观察,而导电膜的存在往往掩盖了表面结构的细节,而且即使是导电材料,STM观察到的是对应于表面费米能级处的态密度,当表面存在非单一电子态时,STM得到的是表面形貌和表面电子性质的综合结果。1986年Binnig等发明了第一台AFM[1] 弥补了STM的不足。它不仅能给出样品的表面形貌,而且可得到样品表面在垂直方向的绝对高度。

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